低溫試驗

低溫試驗

中科檢測環(huán)境可靠性實驗中心擁有各種氣候環(huán)境模擬試驗設備，具備低溫試驗的等能力，為各類電子制品、化工材料等產品提供專業(yè)的低溫試驗服務。

低溫試驗 試驗背景

低溫環(huán)境試驗，指的是產品處于低溫環(huán)境時，溫度對產品的安全性、完整性和性能所產生的影響。產品所使用零件、材料在低溫時可能發(fā)生龜裂、脆化、可動部卡死、特性改變等現(xiàn)象。進行低溫試驗，是為了驗證產品在低溫環(huán)境下能否安全、正常地使用。
中科檢測環(huán)境可靠性實驗中心擁有各種氣候環(huán)境模擬試驗設備，具備低溫試驗的等能力，為各類電子制品、化工材料等產品提供專業(yè)的低溫試驗服務。

低溫試驗 試驗范圍

低溫測試主要用于科研研究、醫(yī)療用品的保存、生物制品、遠洋制品、電子元件、化工材料等特殊材料的低溫實驗及儲存。

低溫試驗 試驗條件

1、低溫工作試驗一般至少為2小時，貯存為12小時或24小時等，測試時長根據產品實際運用的環(huán)境以及相關標準有明晰的規(guī)定，這個測試時間可以根據實際情況進行選擇。
2、低溫工作試驗一般比低溫貯存試驗的溫度點相對寬松，工作或啟動試驗屬于要通電進行性能測試，相對嚴苛。
3、低溫環(huán)境試驗屬于極限應力的環(huán)境適應性試驗測試類型，在進行試驗前，需要明確了解用戶方以及相關標準對于產品的低溫實驗要求。

低溫試驗 檢測標準

GB/T 2423.1-2008電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
GB/T 2421電工電子產品環(huán)境試驗 第1部分：總則
GB/T 2422電工電子產品環(huán)境試驗 術語
GB/T 2423.22電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化
GB/T2424.1 電工電子產品環(huán)境試驗 高溫低溫試驗導則
GB/T 2424.5電工電子產品環(huán)境試驗 溫度試驗箱性能確認
GB/T 2424.7電工電子產品環(huán)境試驗 試驗A和試驗B（帶負載）用溫度試驗箱的測量
IEC60721（所有部分）環(huán)境條件分級
GB/T 2951.14-2008 電纜和光纜絕緣和護套材料通用試驗方法 第14部分：通用試驗方法—低溫試驗
IEC 60512-11-10：2002 電子設備用連接器 試驗和測量 第11-10部分：氣候試驗 試驗11j：低溫
IEC 61300-2-17：2010 光纖連接器和無源器件 基本試驗和測量程序 第2-17部分：低溫試驗
IEC 60068-2-1：2007 環(huán)境試驗第2-1部分：試驗A：低溫