環(huán)境模擬試驗(yàn)

環(huán)境模擬試驗(yàn)

中科檢測環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)中心擁有各種氣候環(huán)境模擬試驗(yàn)設(shè)備，具備環(huán)境模擬試驗(yàn)?zāi)芰?，為各類電器、通訊、光纖、LCD、led、晶體等產(chǎn)品提供專業(yè)的環(huán)境模擬試驗(yàn)服務(wù)。
我們的服務(wù) 專項(xiàng)服務(wù) 環(huán)境模擬試驗(yàn)

環(huán)境模擬試驗(yàn) 試驗(yàn)背景

環(huán)境模擬試驗(yàn)是根據(jù)產(chǎn)品運(yùn)輸和使用過程中可能發(fā)生的（極限）環(huán)境進(jìn)行模擬測試，盡量在產(chǎn)品開發(fā)階段發(fā)現(xiàn)絕大部分問題，這樣一來在產(chǎn)品推向市場后不會有大的問題出現(xiàn)。一切的準(zhǔn)則就是參考實(shí)際的產(chǎn)品用戶使用剖面進(jìn)行。環(huán)境模擬試驗(yàn)更多的是針對產(chǎn)品的設(shè)計(jì)目標(biāo)來進(jìn)行驗(yàn)證，其中主要是運(yùn)輸環(huán)境、存儲環(huán)境、工作環(huán)境等。
中科檢測環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)中心擁有各種氣候環(huán)境模擬試驗(yàn)設(shè)備，具備環(huán)境模擬試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸楦黝愲娖?、通訊、光纖、LCD、led、晶體等產(chǎn)品提供專業(yè)的環(huán)境模擬試驗(yàn)服務(wù)。

環(huán)境模擬試驗(yàn) 試驗(yàn)方式

自然暴露試驗(yàn)： 自然環(huán)境暴露試驗(yàn)是指自然環(huán)境下進(jìn)行長時(shí)間暴露的試驗(yàn)，通常是在室外自然條件下進(jìn)行長期暴露，試驗(yàn)時(shí)間一般至少兩年。
人工模擬試驗(yàn)： 通過試驗(yàn)儀器（溫濕度箱、振動臺、模擬運(yùn)輸臺等）模擬產(chǎn)品在運(yùn)輸和使用過程中的氣候及機(jī)械環(huán)境的試驗(yàn)。
現(xiàn)場試驗(yàn)： 將產(chǎn)品在實(shí)際使用條件下進(jìn)行考察試驗(yàn)。

環(huán)境模擬試驗(yàn) 應(yīng)用范圍

電子、電工、電器、通訊、光纖、LCD、led、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)、儀器、車輛、塑料制品、金屬、食品、化工、建材等的耐高溫、低溫、耐濕循環(huán)試驗(yàn)，醫(yī)療、航空和其他產(chǎn)品。

環(huán)境模擬試驗(yàn) 試驗(yàn)種類

1、低壓（高空）試驗(yàn)：檢驗(yàn)樣品在低壓環(huán)境中的使用性能以及壓力迅速下降對性能的影響。?
2、高溫試驗(yàn)：檢驗(yàn)在高溫環(huán)境中儲藏或使用的性能。
3、低溫試驗(yàn)：檢驗(yàn)試件能否在長期的低溫環(huán)境中儲藏、操縱控制和使用。
4、熱沖擊試驗(yàn)：檢驗(yàn)環(huán)境溫度驟然變化對樣品性能的影響。
5、太陽輻射（日照）試驗(yàn)：檢驗(yàn)太陽輻射對樣品或有關(guān)材料的使用或露天存儲的影響。
6、淋雨試驗(yàn)：試驗(yàn)適用于使用過程中有可能受到雨淋的樣品。
7、防潮試驗(yàn)：檢驗(yàn)樣品對溫暖潮濕的環(huán)境的適應(yīng)能力。
8、防霉試驗(yàn)：評定樣品發(fā)生霉變的程度 和霉變對樣品性能或使用的影響程度。
9、鹽霧試驗(yàn)：檢驗(yàn)含鹽潮濕大氣對樣品性能的影響。
10、沙塵試驗(yàn)：檢驗(yàn)樣品在沙塵環(huán)境中的使用和存儲能力。
11、浸水試驗(yàn)：檢驗(yàn)樣品浸入水中不漏水的能力。
12、凍雨試驗(yàn)：檢驗(yàn) 雨、霧和濺起的海水落在樣品上結(jié)冰后對樣品使用性能的影響。

環(huán)境模擬試驗(yàn) 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
GB/T2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)M：低氣壓》
GB/T2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度（低溫、高溫）低氣壓振動（正弦）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T5170.10 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 2424.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試程 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)M：低氣壓
GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合
GB/T 5170.17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 2423.37-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)L：沙塵試驗(yàn)
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 實(shí)驗(yàn)方法試驗(yàn)A-低溫
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)B-高溫
GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 實(shí)驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）