透射電鏡測試

透射電鏡測試（TEM）是一種利用電子束穿透樣品并由樣品下方的電子探測器接收透射電子的高分辨率顯微技術(shù)。中科檢測具備透射電鏡測試資質(zhì)能力，可以出具CMA、CNAS檢測報(bào)告。

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透射電鏡測試介紹

透射電鏡測試（TEM）是一種利用電子束穿透樣品并由樣品下方的電子探測器接收透射電子的高分辨率顯微技術(shù)。它主要用于觀察樣品的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)，具有極高的分辨率，可以達(dá)到原子級別。

TEM能夠揭示材料的晶體結(jié)構(gòu)，包括晶格參數(shù)、晶界、相界等，觀察到材料中的缺陷，如位錯(cuò)、空位、堆垛層錯(cuò)等，特別適合于研究納米尺度的材料結(jié)構(gòu)，如納米顆粒、納米線、納米管等。通過能量色散X射線光譜技術(shù)，TEM可以進(jìn)行元素的定性和定量分析，分析樣品中元素的化學(xué)狀態(tài)，如氧化態(tài)。TEM可以進(jìn)行電子衍射分析，從而獲得材料的晶體學(xué)信息，提供樣品中元素的化學(xué)和結(jié)構(gòu)信息，如電子能級結(jié)構(gòu)。TEM還可以進(jìn)行原位實(shí)驗(yàn)，觀察材料在加熱、冷卻、應(yīng)力作用等條件下的動(dòng)態(tài)變化，捕捉到材料結(jié)構(gòu)隨時(shí)間的變化過程。

中科檢測具備透射電鏡測試資質(zhì)能力，可以出具CMA、CNAS檢測報(bào)告。