地質(zhì)儀器長霉試驗(yàn)

中科檢測可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種地質(zhì)儀器產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰?，為地質(zhì)儀器產(chǎn)品提供專業(yè)的長霉試驗(yàn)服務(wù)。

我們的服務(wù) 專項(xiàng)服務(wù) 地質(zhì)儀器長霉試驗(yàn)

地質(zhì)儀器長霉試驗(yàn) 試驗(yàn)背景

長霉試驗(yàn)就是檢測產(chǎn)品抗霉菌的能力和在有利于霉菌生長的條件下（即高濕溫暖的環(huán)境中和有無機(jī)鹽存在的條件下），設(shè)備是否受到霉菌的有害影響。地質(zhì)儀器長霉試驗(yàn)?zāi)康脑谟诖_定其在有霉菌生長地區(qū)使用、運(yùn)輸和貯存時，長霉程度對產(chǎn)品及其材料性能的影響，以評價(jià)產(chǎn)品對長霉的適應(yīng)性。
中科檢測可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種地質(zhì)儀器產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰?，為地質(zhì)儀器產(chǎn)品提供專業(yè)的長霉試驗(yàn)服務(wù)。

地質(zhì)儀器長霉試驗(yàn) 試驗(yàn)方法

試驗(yàn)方法1：經(jīng)過28 d培養(yǎng)以后，確定：
1、外觀檢查確定霉菌生長程度；
2、長霉引起的物理損傷；
3、長霉條件下對功能和/或電性能的影響，如果相關(guān)規(guī)范中有要求。如果相關(guān)規(guī)范要求檢查功能和/或測量電性能，培養(yǎng)期應(yīng)延長至56 d。
試驗(yàn)方法2：用營養(yǎng)液對樣品預(yù)處理后，進(jìn)行為期28 d的培養(yǎng)，確定：
1、外觀檢查確定霉菌生長程度；
2、長霉引起的物理損傷；
3、長霉條件下對功能和/或電性能的影響，如果相關(guān)規(guī)范中有要求。
通過使用營養(yǎng)液來模擬污染未長霉的樣品，會降低樣品表面的防霉性能。
如果檢查功能和/或測量電氣性能，宜考慮該影響。使用營養(yǎng)液就會發(fā)生長霉，如果沒有長霉，宜考慮防霉劑的影響。

地質(zhì)儀器長霉試驗(yàn) 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

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DZ 0039.14-1992 地質(zhì)儀器產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)條件及方法長霉試驗(yàn)
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