電工電子產品高溫試驗

中科檢測可靠性實驗中心具備各種電工電子產品的環(huán)境試驗能力，為散熱和非散熱電工電子產品提供專業(yè)的高溫試驗服務。

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電工電子產品高溫試驗試驗背景

高溫條件下，產品所使用零件、材料在高溫時可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象。電子電工產品高溫試驗是確定元件、設備或其他產品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。高溫試驗分為散熱樣品的高溫試驗（溫度漸變）和非散熱試驗樣品的高溫試驗（溫度漸變）。
中科檢測可靠性實驗中心具備各種電工電子產品的環(huán)境試驗能力，為散熱和非散熱電工電子產品提供專業(yè)的高溫試驗服務。

電工電子產品高溫試驗試驗方法

1、試驗Bb：非散熱試驗樣品溫度漸變的高溫試驗
本試驗方法用來進行非散熱試驗樣品的高溫試驗，試驗樣品在高溫條件下放置足夠長時間以達到溫度穩(wěn)定。
2、試驗B：散熱試驗祥品溫度漸變的高溫試驗一試驗樣品在升溫調節(jié)期不通電
本試驗方法用來進行散熱試驗樣品的高溫試驗，試驗樣品在高溫條件下放置足夠長時間以達到溫度穩(wěn)定。
3、試驗Be：散熱試驗樣品溫度漸變的高溫試驗一試驗樣品在整個試驗過程通電
本試驗方法用來進行散熱試驗樣品的高溫試驗，試驗樣品在高溫條件下放置足夠長時間以達到溫度穩(wěn)定，并且要求試驗樣品在整個試驗過程中通電。

電工電子產品高溫試驗試驗標準

GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫
IEC 60068-2-2：2007電工電子產品環(huán)境試驗第2-2部分：試驗試驗B：干熱
GB/T 2421電工電子產品環(huán)境試驗第1部分：總則
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化
GB/T 2424.1電工電子產品環(huán)境試驗高溫低溫試驗導則
GB/T2424.5電工電子產品環(huán)境試驗溫度試驗箱性能確認