半導(dǎo)體器件掃頻振動試驗(yàn) 試驗(yàn)背景
半導(dǎo)體器件掃頻振動試驗(yàn)?zāi)康氖菧y定在規(guī)定頻率范圍內(nèi),振動對器件的影響,屬于破壞性試驗(yàn),通常用于有空腔的器件。
中科檢測環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)中心擁有各種半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)設(shè)備,具備掃頻振動試驗(yàn)?zāi)芰?,為半?dǎo)體器件、設(shè)備提供專業(yè)的掃頻振動試驗(yàn)服務(wù)。
中科檢測環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)中心擁有各種半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)設(shè)備,具備掃頻振動試驗(yàn)?zāi)芰?,為半?dǎo)體器件、設(shè)備提供專業(yè)的掃頻振動試驗(yàn)服務(wù)。
半導(dǎo)體器件掃頻振動試驗(yàn) 試驗(yàn)方式
樣品應(yīng)剛性地安裝在振動臺上,引出端和電纜也應(yīng)安全固定,以避免引人額外的引線共振。應(yīng)使樣品做簡諧振動,其振幅兩倍幅值為1.5 mm(峰-峰值) ,或其峰值加速度為200 m/s2 ,取較小者。 振動頻率在20 Hz~2 000 Hz范圍內(nèi)近似對數(shù)變化。
從20 Hz~2 000 Hz再回到20 Hz的整個頻率范圍的振動時間不應(yīng)少于4 min。在X、Y和Z 3個方向上各進(jìn)行4次這樣的循環(huán)(共12次)。
從20 Hz~2 000 Hz再回到20 Hz的整個頻率范圍的振動時間不應(yīng)少于4 min。在X、Y和Z 3個方向上各進(jìn)行4次這樣的循環(huán)(共12次)。
半導(dǎo)體器件掃頻振動試驗(yàn) 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 4937.1-2006 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第1部分:總則
GB/T 4937.12-2012 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第12部分:掃頻振動
GB/T 2423.10-2008電工電子產(chǎn) 品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn) Fc:振動(正弦)
IEC 60749-12 :2002 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第12部分: 掃頻振動
GB/T 4937.12-2012 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第12部分:掃頻振動
GB/T 2423.10-2008電工電子產(chǎn) 品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn) Fc:振動(正弦)
IEC 60749-12 :2002 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第12部分: 掃頻振動

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