地質(zhì)儀器高溫高壓試驗 試驗背景
由于材料或工藝存在瑕疵或由于操作人員誤操作,濕度和溫度等原因,在電器設(shè)備內(nèi)部留下潛伏性的缺陷,如將原有的缺陷設(shè)備投入電力系統(tǒng)運行,有的當(dāng)時就會發(fā)生事故,有的雖暫時不發(fā)生事故,但運行一段時間后,也會發(fā)生事故,甚至?xí)饑?yán)重后果,如設(shè)備損壞,線路跳閘等。
為了防止電氣設(shè)備在投入運行時或運行中發(fā)生事故,及時發(fā)現(xiàn)設(shè)備中潛伏的缺陷,必須對電氣設(shè)備運行高壓試驗。地質(zhì)儀器高溫/高壓試驗?zāi)康脑谟诖_定其在高溫高壓環(huán)境中使用的適應(yīng)性及結(jié)構(gòu)密封的完好性。
中科檢測可靠性實驗中心具備各種地質(zhì)儀器產(chǎn)品的環(huán)境試驗?zāi)芰?,為地質(zhì)儀器產(chǎn)品提供專業(yè)的高溫/高壓試驗服務(wù)。
為了防止電氣設(shè)備在投入運行時或運行中發(fā)生事故,及時發(fā)現(xiàn)設(shè)備中潛伏的缺陷,必須對電氣設(shè)備運行高壓試驗。地質(zhì)儀器高溫/高壓試驗?zāi)康脑谟诖_定其在高溫高壓環(huán)境中使用的適應(yīng)性及結(jié)構(gòu)密封的完好性。
中科檢測可靠性實驗中心具備各種地質(zhì)儀器產(chǎn)品的環(huán)境試驗?zāi)芰?,為地質(zhì)儀器產(chǎn)品提供專業(yè)的高溫/高壓試驗服務(wù)。
地質(zhì)儀器高溫高壓試驗 試驗方法
1、將受試產(chǎn)品在正常大氣條件下通過電纜與地面測量(或控制)儀器連接調(diào)試好后,放入試驗裝置中,接通電源使產(chǎn)品處于正常工作狀態(tài)。
2、密封好試驗裝置,檢驗確信安全后使裝置處于受控正常工作狀態(tài)。
3、試驗的溫度、壓力按升溫升壓階梯時序圖逐步升到規(guī)定的溫度及壓力上限。升溫速率:1~5℃/min ;升壓速率:0.1~0.5MPa/min。
4、階梯保持時間: 10min;高溫高壓上限保持時間:30min。
5、非連續(xù)測量的產(chǎn)品如允許,在升溫升壓期間可以斷電。
6、在升溫升壓前,在每個階梯保持時間內(nèi),按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定對主要技術(shù)指標(biāo)(含絕緣電阻)進(jìn)行中間測量,結(jié)果均應(yīng)符合技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。
7、在上限保持時間結(jié)束后,將溫度壓力逐步降到正常條件,取出受試產(chǎn)品擦拭干凈,在正常大氣條件下恢復(fù)30min。
8、最后檢測 按受試產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定,檢查受試產(chǎn)品的外觀不得有剛性變形;密封良好、保護(hù)管內(nèi)無水跡或油跡;機(jī)械性能、電氣性能檢測結(jié)果均應(yīng)符合產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。
2、密封好試驗裝置,檢驗確信安全后使裝置處于受控正常工作狀態(tài)。
3、試驗的溫度、壓力按升溫升壓階梯時序圖逐步升到規(guī)定的溫度及壓力上限。升溫速率:1~5℃/min ;升壓速率:0.1~0.5MPa/min。
4、階梯保持時間: 10min;高溫高壓上限保持時間:30min。
5、非連續(xù)測量的產(chǎn)品如允許,在升溫升壓期間可以斷電。
6、在升溫升壓前,在每個階梯保持時間內(nèi),按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定對主要技術(shù)指標(biāo)(含絕緣電阻)進(jìn)行中間測量,結(jié)果均應(yīng)符合技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。
7、在上限保持時間結(jié)束后,將溫度壓力逐步降到正常條件,取出受試產(chǎn)品擦拭干凈,在正常大氣條件下恢復(fù)30min。
8、最后檢測 按受試產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定,檢查受試產(chǎn)品的外觀不得有剛性變形;密封良好、保護(hù)管內(nèi)無水跡或油跡;機(jī)械性能、電氣性能檢測結(jié)果均應(yīng)符合產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。
地質(zhì)儀器高溫高壓試驗 試驗標(biāo)準(zhǔn)
DZ 0039.1-1992 地質(zhì)儀器產(chǎn)品基本環(huán)境試驗條件及方法 總則
DZ 0039.11-1992 地質(zhì)儀器產(chǎn)品基本環(huán)境試驗條件及方法 高溫/高壓綜合試驗
GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合
GB/T 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機(jī))綜合
GB/T2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度(低溫、高溫)低氣壓振動(正弦)綜合試驗導(dǎo)則
IEC68-2-41基本環(huán)境試驗規(guī)程第二部分試驗試驗Z/BM高溫/低氣壓試驗
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗B-高溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
DZ 0039.11-1992 地質(zhì)儀器產(chǎn)品基本環(huán)境試驗條件及方法 高溫/高壓綜合試驗
GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合
GB/T 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機(jī))綜合
GB/T2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度(低溫、高溫)低氣壓振動(正弦)綜合試驗導(dǎo)則
IEC68-2-41基本環(huán)境試驗規(guī)程第二部分試驗試驗Z/BM高溫/低氣壓試驗
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗B-高溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫

我們的服務(wù)
做最具影響力的國際化檢驗檢測認(rèn)證服務(wù)機(jī)構(gòu)。

行業(yè)解決方案
為全球各產(chǎn)業(yè)提供一站式整體技術(shù)解決方案。
為您推薦
更多