分析儀器環(huán)境試驗 試驗背景
分析儀器環(huán)境試驗是所有分析儀器(以下簡稱儀器)在研究、開發(fā)、設(shè)計、制造、銷售過程中,為保證產(chǎn)品質(zhì)量和制定產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)時,所需儀器環(huán)境試驗的選擇。
中科檢測可靠性實驗中心具備各種分析儀器的環(huán)境試驗?zāi)芰?,為分析儀器提供專業(yè)的低溫試驗、高溫試驗、溫度變化試驗、恒定濕熱試驗、交變濕熱試驗等環(huán)境試驗服務(wù)。
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分析儀器環(huán)境試驗 試驗范圍
儀器按使用條件和運輸流通條件分為以下4個基本組別:
Ⅰ組:環(huán)境溫度和濕度控制在規(guī)定的范圍內(nèi),通常指具有空調(diào)設(shè)備的可控環(huán)境。本組適用于精密儀器。
Ⅱ組:僅將環(huán)境溫度控制在規(guī)定的范圍內(nèi),通常指具有一般保溫供暖及通風(fēng)的室內(nèi)環(huán)境。本組適用于實驗室儀器。
Ⅲ組:環(huán)境溫度和濕度都不受控制,通常指無保溫供暖及通風(fēng)的室內(nèi)環(huán)境。本組適用于工業(yè)過程儀器。
Ⅳ組:環(huán)境溫度和濕度都不受控制的較惡劣環(huán)境,通常指有遮蔽或無遮蔽的室外環(huán)境。本組適用于室外使用儀器。
Ⅰ組:環(huán)境溫度和濕度控制在規(guī)定的范圍內(nèi),通常指具有空調(diào)設(shè)備的可控環(huán)境。本組適用于精密儀器。
Ⅱ組:僅將環(huán)境溫度控制在規(guī)定的范圍內(nèi),通常指具有一般保溫供暖及通風(fēng)的室內(nèi)環(huán)境。本組適用于實驗室儀器。
Ⅲ組:環(huán)境溫度和濕度都不受控制,通常指無保溫供暖及通風(fēng)的室內(nèi)環(huán)境。本組適用于工業(yè)過程儀器。
Ⅳ組:環(huán)境溫度和濕度都不受控制的較惡劣環(huán)境,通常指有遮蔽或無遮蔽的室外環(huán)境。本組適用于室外使用儀器。
分析儀器環(huán)境試驗 試驗項目
試驗項目有:電源電壓與頻率試驗、低溫試驗、高溫試驗、溫度變化試驗、恒定濕熱試驗、交變濕熱試驗、振動試驗﹑磁場試驗、氣壓試驗、沙塵試驗、長霉試驗、鹽霧試驗、低溫貯存試驗、高溫貯存試驗、跌落試驗和碰撞試驗共16項。
分析儀器環(huán)境試驗 試驗標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 11606-2007 分析儀器環(huán)境試驗方法
GB/T 2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
GB/T 2423.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GB/T 2423.4電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db:交變濕熱試驗方法
GB/T 2423.17電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ka:鹽霧試驗方法
GB/T 2423.21電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M:低氣壓試驗方法
GB/T 2423.22電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化
GB/T 2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
GB/T 2423.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GB/T 2423.4電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db:交變濕熱試驗方法
GB/T 2423.17電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ka:鹽霧試驗方法
GB/T 2423.21電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M:低氣壓試驗方法
GB/T 2423.22電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化

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